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Neuartiges Nachweisverfahren für Pflanzenkrankheiten vorgestellt

von , am
13.10.2010

Berlin - Mit einem neuen chipgestützten Verfahren lassen sich Pflanzenkrankheiten schnell, frühzeitig und vor Ort nachweisen. Ernteausfälle in Milliardenhöhe könnten vermieden werden.

© Fiber_Max

Darauf hat das Institut für Photonische Technologien (IPHT) auf den diesjährigen Innovationstagen des Bundeslandwirtschaftsministeriums hingewiesen, wo dieses Deduktionssystem in präsentiert wurde. Entwickelt hätten es Wissenschaftler des IPHT gemeinsam mit dem Ingenieurbüro BECIT aus Halle und dem Bundesforschungsinstitut für Kulturpflanzen des Julius-Kühn-Instituts (JKI).

Damit lasse sich innerhalb kurzer Zeit feststellen, ob eine Pflanze an Phytophthora erkrankt sei. Deren pflanzenschädigende Keime verursachten unter anderem den Eichentod, die Wurzelfäule bei Erdbeeren oder die Braunfäule bei Kartoffeln.

Nachweis von  Phytophthora-Arten

Auch Zierpflanzen wie Rhododendron seien für Phytophthora anfällig. Die Reichweite der Pflanzenkrankheit nehme eine große ökologische, wirtschaftliche und umweltrelevante Bedeutung ein; der geschätzte wirtschaftliche Schaden durch die Kartoffelbraunfäule im vergangenen Jahr sei immens gewesen.

Chip-gestütztes Detektionssystem 

"Die bisherigen wenigen zugelassenen Nachweismethoden sind nur in spezialisierten Laboren durchführbar. Die Analysen sind teuer und können derzeit nur wenige Phytophthoraarten identifizieren", erklärte Sandra Julich, die Doktorandin in der Arbeitsgruppe Nanobiophotonik des IPHT ist. Die Diplom-Ingenieurin entwickelte mit ihren Kollegen des Forschungsteams Mikrofluidik das neuartige Nachweisverfahren. Derzeit können laut IPHT fünf verschiedene Phytophthoratypen eindeutig voneinander unterschieden werden. (AgE)

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